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Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology

Idioma InglésInglés
Libro electrónico Adobe ePub DRM
Libro electrónico Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology Manuel Servin
Código Libristo: 41064112
Editores Wiley-VCH, mayo 2014
The main objective of this book is to present the basic theoretical principles and practical applica... Descripción completa
? points 417 b
170.49 €
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The main objective of this book is to present the basic theoretical principles and practical applications for the classical interferometric techniques and the most advanced methods in the field of modern fringe pattern analysis applied to optical metrology. A major novelty of this work is the presentation of a unified theoretical framework based on the Fourier description of phase shifting interferometry using the Frequency Transfer Function (FTF) along with the theory of Stochastic Process for the straightforward analysis and synthesis of phase shifting algorithms with desired properties such as spectral response, detuning and signal-to-noise robustness, harmonic rejection, etc.

Actriz & Políglota
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Ewa Kasp
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Sobre el libro

Nombre y apellidos Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology
Autor Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, Moises Padilla
Idioma Inglés
Encuadernación Libro electrónico - Adobe ePub DRM
Fecha de publicación 2014
EAN 9783527681105
Código Libristo 41064112
Editores Wiley-VCH

Categorías

Matemáticas y ciencias > Física > Física óptica
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