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VLSI Design and Test

Name: VLSI Design and Test
Brand: Springer
SKU: 41333749
Price: 128.19 EUR
Availability: InStock
Author: Brajesh Kumar Kaushik
ISBN: 9789811074707

21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers

Brajesh Kumar Kaushik

Sudeb Dasgupta

Virendra Singh

Idioma

Inglés

Libro electrónico Adobe ePub DRM

Código Libristo: 41333749

Editores Springer, diciembre 2017

This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design an... Descripción completa

Código Libristo: 41333749

314 b

128.19 €

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