Ab-initio-Untersuchung von Heusler-Legierungen für fortschrittliche eingebettete Systeme

Diese Studie befasst sich mit der Untersuchung der strukturellen, elektronischen, optischen und elastischen Eigenschaften von vollständigen Heusler-Legierungen vom Typ X₂TaSi (wobei X = Rb und K) sowie der Verbindung Mn₂HfAl. Es wurden ab initio-Berechnungen im Rahmen der Dichtefunktionaltheorie (DFT) unter Verwendung der Methode der linearisierten, auf den Integralpotential erweiterten ebenen Wellen (FP-LAPW) durchgeführt. Alle Berechnungen wurden mit dem Programm WIEN2k durchgeführt, wobei zunächst die verallgemeinerte Gradientenapproximation (GGA) und anschließend die modifizierte Becke-Johnson-Methode (mBJ-GGA) verwendet wurde, um die Genauigkeit der Schätzung der Energielücke zu verbessern. Die elektronischen Ergebnisse zeigen, dass die untersuchten Verbindungen ein ausgeprägtes Halbleiterverhalten aufweisen, das durch die Elektronenbandstruktur bestimmt wird. Die für die Verbindungen K₂TaSi und Rb₂TaSi durchgeführten optischen Berechnungen zeigen eine starke Absorption sowie ein hohes Reflexionsvermögen im ultravioletten Bereich, was auf ihr Potenzial für optische und optoelektronische Anwendungen in diesem Spektralbereich hindeutet.