Envío gratis a partir de 69,99 euros.

«Comprobar estado del pedido»

Entre a formar parte de una comunidad de amantes de los libros del mundo entero y acceda a un sinfín de ventajas. Crear una cuenta gratis

Envío gratuito con Zásilkovna para compras superiores a 59.99 €

Mensajería SEUR 4.99 € Mensajería GLS 7.99 € Mensajería Correos 5.49 € Mensajería DHL 5.49 € Punto SEUR 3.99 €

Contacto

Cómo comprar

Ayuda

Mi cuenta

▸ Vacío :-(

Envío gratis a partir de 69,99 euros.

Applied Scanning Probe Methods II

Name: Applied Scanning Probe Methods II
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 01560759
Price: 165.79 EUR
Availability: InStock
Author: Bharat Bhushan
ISBN: 9783540262428

Scanning Probe Microscopy Techniques

Bharat Bhushan

Harald Fuchs

Idioma

Inglés

Libro Tapa dura

Código Libristo: 01560759

Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, octubre 2005

Volumes II, III and IV examine the physical and technical foundation for recent progress in applied... Descripción completa

Código Libristo: 01560759

406 b

165.79 €

Almacenamiento externo Envío en 10-13 días

Hasta 30 días para devoluciones

Clientes que también han comprado

David Jiří David

binding.

7.59 €

Detlev von Liliencron - AEsthetische Studie Franz Oppenheimer

Tapa blanda

13.89 €

ANKO KA JADU AMIT GARG

Adobe ePub DRM

11.59 €

Elogio de la experiencia (Bolsillo) HONORE CARL

Tapa blanda

11.99 €

Lernen mit Teo und Tia Deutsch - 1. Klasse Volksschule mit CD Verena Müller

Tapa blanda

14.69 €

Umut Yeserdi Baris Yarkadas

Tapa blanda

14.39 €

Los enigmas ocultos de Shakespeare Alejandro Polanco

Adobe ePub DRM

23.09 €

Passover Haggadah Peter Gandolphy

Tapa blanda

24.49 €

Die Ganzheit von Wirtschaft, Staat und Gesellschaft. Walter Heinrich

Tapa dura

145.39 €

Hlas ticha / Voice of Silence Jiří Mazánek

Tapa dura

9.59 €

Volumes II, III and IV examine the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques, and build upon the first volume published in early 2004. The field is progressing so fast that there is a need for a second set of volumes to capture the latest developments. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. Volume II introduces scanning probe microscopy, including sensor technology, Volume III covers the whole range of characterization possibilities using SPM and Volume IV offers chapters on uses in various industrial applications. The international perspective offered in these three volumes - which belong together - contributes further to the evolution of SPM techniques.