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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Idioma InglésInglés
Libro Tapa dura
Libro Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits Manoj Sachdev
Código Libristo: 01382200
Editores Springer-Verlag New York Inc., junio 2007
The progression developed in this book is essential to understand new test methodologies, algorithms... Descripción completa
? points 552 b
225.39 €
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The progression developed in this book is essential to understand new test methodologies, algorithms and industrial practices. Without the insight into the physics of nano-metric technologies, it would be hard to develop system-level test strategies that yield a high IC fault coverage. Obviously, the work on defect-oriented testing presented in the book is not final, and it is an evolving field with interesting challenges imposed by the ever-changing nature of nano-metric technologies. Test and design practitioners from academia and industry will find that Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits lays the foundations for further pioneering work.

Actriz & Políglota
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Sobre el libro

Nombre y apellidos Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Autor Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez
Idioma Inglés
Encuadernación Libro - Tapa dura
Fecha de publicación 2007
Número de páginas 328
EAN 9780387465463
ISBN 0387465464
Código Libristo 01382200
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Peso 694
Dimensiones 155 x 235 x 24

Categorías

Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Ingeniería electrónica y de las comunicaciones > Ingeniería electrónica > Electrónica: circuitos y componentes
Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Tecnología: cuestiones generales > Ingeniería: general
Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Tecnología: cuestiones generales > Diseño técnico
Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Tecnología e ingeniería energética > Ingeniería eléctrica
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