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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997

Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997

Idioma InglésInglés
Libro Tapa dura
Libro Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 I. Rechenberg
Código Libristo: 06681091
Editores Taylor & Francis Ltd, enero 1998
Presents an overview of techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic... Descripción completa
? points 1105 b
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Presents an overview of techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This book addresses advances in defect analyzing techniques and instrumentation and their application to substrates, epilayers, and devices. It investigates defects in layers and devices.

Actriz & Políglota
EWA KASP para
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Ewa Kasp
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Sobre el libro

Nombre y apellidos Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Autor I. Rechenberg
Idioma Inglés
Encuadernación Libro - Tapa dura
Fecha de publicación 1998
Número de páginas 524
EAN 9780750305006
ISBN 9780750305006
Código Libristo 06681091
Editores Taylor & Francis Ltd
Peso 1170
Dimensiones 156 x 234 x 30

Categorías

Matemáticas y ciencias > Física > Materiales/estados de la materia > Física de la materia condensada (física del estado líquido y del estado sólido)
Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Ingeniería electrónica y de las comunicaciones > Ingeniería electrónica > Dispositivos y materiales electrónicos
Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Ingeniería mecánica y de materiales > Ciencia de materiales
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