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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Idioma InglésInglés
Libro Tapa blanda
Libro High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography D. Keith Bowen
Código Libristo: 24622344
Editores Taylor & Francis Ltd, octubre 2019
The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated... Descripción completa
? points 253 b
103.39 €
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Sobre el libro

Nombre y apellidos High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Autor D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
Idioma Inglés
Encuadernación Libro - Tapa blanda
Fecha de publicación 2019
Número de páginas 264
EAN 9780367400637
ISBN 0367400634
Código Libristo 24622344
Editores Taylor & Francis Ltd
Peso 490
Dimensiones 174 x 246

Categorías

Matemáticas y ciencias > Física > Física óptica
Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Ingeniería mecánica y de materiales > Ciencia de materiales
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