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Materials Reliability in Microelectronics II: Volume 265

Idioma InglésInglés
Libro Tapa blanda
Libro Materials Reliability in Microelectronics II: Volume 265 C. V. Thompson
Código Libristo: 02439156
Editores Cambridge University Press, junio 2014
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for research...
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Sobre el libro

Nombre y apellidos Materials Reliability in Microelectronics II: Volume 265
Autor C. V. Thompson, J. R. Lloyd
Idioma Inglés
Encuadernación Libro - Tapa blanda
Fecha de publicación 2014
Número de páginas 344
EAN 9781107409682
ISBN 1107409683
Código Libristo 02439156
Editores Cambridge University Press
Peso 46
Dimensiones 152 x 229 x 18

Categorías

Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Ingeniería mecánica y de materiales > Ciencia de materiales
Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Ingeniería electrónica y de las comunicaciones > Ingeniería electrónica
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