«Comprobar estado del pedido»
LIBRISTO
LIBROAMANTO
obligatorio
Contraseña olvidada
Entre a formar parte de una comunidad de amantes de los libros del mundo entero y acceda a un sinfín de ventajas. Crear una cuenta gratis
0
Envío gratuito con Zásilkovna para compras superiores a 59.99 €
Mensajería SEUR 4.99 € Mensajería GLS 7.99 € Mensajería Correos 5.49 € Mensajería DHL 5.49 € Punto SEUR 3.99 €
phone Contacto phoneCómo comprar
Envío gratis a partir de 69,99 euros.

Materials Reliability in Microelectronics V: Volume 391

Idioma InglésInglés
Libro Tapa dura
Libro Materials Reliability in Microelectronics V: Volume 391 William F. Filter
Código Libristo: 02060054
Editores Materials Research Society, octubre 1995
This long-standing proceedings series is highly regarded as a premier forum for the discussion of mi... Descripción completa
? points 70 b Próximamente Próximamente
28.49 €
Reimpresión prevista Fecha desconocida Fecha desconocida

Hasta 30 días para devoluciones

Clientes que también han comprado

Kochen mit... Bananen Götz Gußmann / Libro Tapa dura
common.buy 8.89 €
Histoires autour de sages fous et de fous sages Lagny Delatour / Libro Tapa blanda
common.buy 20.79 €
Finanzmarktintegration durch Insolvenzrechtsharmonisierung Andy Ruzik / Libro Tapa dura
common.buy 200.59 €
Unsere ersten Ziegen Anne-Kathrin Gomringer / Libro Tapa blanda
common.buy 16.79 €

This long-standing proceedings series is highly regarded as a premier forum for the discussion of microelectronics reliability issues. In this fifth book, emphasis is on the fundamental understanding of failure phenomena in thin-film materials. Special attention is given to electromigration and mechanical stress effects. The reliability of thin dielectrics and hot carrier degradation of transistors are also featured. Topics include: modeling and simulation of failure mechanisms; reliability issues for submicron IC technologies and packaging; stresses in thin films/lines; gate oxides; barrier layers; electromigration mechanisms; reliability issues for Cu metallizations; electromigration and microstructure; electromigration and stress voiding in circuit interconnects; and resistance measurements of electromigration damage.

Actriz & Políglota
EWA KASP para
Visualizar el vídeo
Ewa Kasp
Libristo tiene la oferta más extensa de literatura en idiomas extranjeros. Por eso compran aquí sus libros.

Sobre el libro

Nombre y apellidos Materials Reliability in Microelectronics V: Volume 391
Autor William F. Filter, Kamesh Gadepally, A. Lindsay Greer, Anthony S. Oates, Robert Rosenberg
Idioma Inglés
Encuadernación Libro - Tapa dura
Fecha de publicación 1995
Número de páginas 523
EAN 9781558992948
ISBN 1558992944
Código Libristo 02060054
Editores Materials Research Society
Peso 886
Dimensiones 157 x 234 x 33

Categorías

Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Ingeniería mecánica y de materiales > Ciencia de materiales
Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Tecnología: cuestiones generales
Regale este libro hoy
Es fácil
1 Añadir al carrito y elegir Entregar como regalo en el checkout 2 Le enviaremos un vale 3 El libro llegará a la dirección del destinatario

También puede interesarle

Right To Be Well Born W. E. D. Stokes / Libro Tapa blanda
common.buy 20.09 €
A Cultural History of Sport in the Age of Enlightenment Rebekka von Mallinckrodt / Libro Tapa blanda
common.buy 42.89 €
Perioperative Quality Improvement - E-Book Carol J. Peden / Libro electrónico Adobe ePub DRM
common.buy 76.39 €
Food Truck Business Guide for Beginners DURRANT / Libro Tapa blanda
common.buy 16.29 €
The Art of Bird Identification Pete Dunne / Libro Tapa blanda
common.buy 17.29 €
It Hurts Subhasis Das / Libro Tapa blanda
common.buy 23.99 €
Popular
Oh, The Places You'll Go! Dr. Seuss / Libro Tapa dura
common.buy 15.79 €
Environmental Technologies and Trends Ravi K. Jain / Libro Tapa blanda
common.buy 56.59 €
Varieties of Orthographic Knowledge V.W. Berninger / Libro Tapa blanda
common.buy 169.09 €
Two Story Mittens and the Little Play Mittens Being the Fourth Book of the Series Aunt Fanny / Libro Tapa blanda
common.buy 9.99 €
Convergence Clubs and Spatial Externalities Stilianos Alexiadis / Libro Tapa dura
common.buy 112.79 €

Inicio de sesión

Inicie sesión en su cuenta. ¿No tiene una cuenta Libristo? ¡Cree una ahora!

 
obligatorio
obligatorio
Contraseña olvidada

¿No tiene cuenta? Descubra las ventajas de tener una cuenta Libristo.

Si tiene una cuenta Libristo, lo tendrá todo bajo control.

Crear una cuenta Libristo
Asesor de libros Libroamiko
Hola, soy Libroamiko, ¿puedo ayudarte?