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Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Idioma InglésInglés
Libro Tapa dura
Libro Microelectronic Test Structures for CMOS Technology Manjul Bhushan
Código Libristo: 01424507
Editores Springer-Verlag New York Inc., agosto 2011
Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the ba... Descripción completa
? points 487 b
198.89 €
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Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the basic concepts in test structure design for dedicated test vehicles, the book also examines high-speed characterization techniques for digital CMOS applications.

Actriz & Políglota
EWA KASP para
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Ewa Kasp
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Sobre el libro

Nombre y apellidos Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Autor Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
Idioma Inglés
Encuadernación Libro - Tapa dura
Fecha de publicación 2011
Número de páginas 373
EAN 9781441993762
ISBN 1441993762
Código Libristo 01424507
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Peso 776
Dimensiones 155 x 235 x 27

Categorías

Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Ingeniería electrónica y de las comunicaciones > Ingeniería electrónica > Electrónica: circuitos y componentes
Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Ingeniería electrónica y de las comunicaciones > Ingeniería electrónica > Dispositivos y materiales electrónicos
Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Tecnología: cuestiones generales > Ingeniería: general
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