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Libro Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs Ruijing Shen

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Sheldon X.-D. Tan

Idioma

Inglés

Libro Tapa blanda

Libro Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs Ruijing Shen

Código Libristo: 02597387

Editores Springer-Verlag New York Inc., abril 2014

This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on... Descripción completa

Código Libristo: 02597387

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This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications in real circuit design.

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Ewa Kasp

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Sobre el libro

Nombre y apellidos Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Autor Ruijing Shen, Sheldon X.-D. Tan, Hao Yu

Idioma

Inglés

Encuadernación Libro - Tapa blanda

Fecha de publicación 2014

Número de páginas 306

EAN 9781489987877

ISBN 1489987878

Código Libristo 02597387

Editores Springer-Verlag New York Inc.

Peso 516

Dimensiones 155 x 17 x 18

Categorías

Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Ingeniería electrónica y de las comunicaciones > Ingeniería electrónica > Electrónica: circuitos y componentes

Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Ingeniería electrónica y de las comunicaciones > Ingeniería electrónica > Dispositivos y materiales electrónicos

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Computación e informática > Ciencias de la computación > Arquitectura y diseño lógico de ordenadores

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