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Surface Microscopy with Low Energy Electrons

Name: Surface Microscopy with Low Energy Electrons
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 14277196
Price: 180.99 EUR
Availability: InStock
Author: Ernst Bauer
ISBN: 9781493939886

Ernst Bauer

Idioma

Inglés

Libro Tapa blanda

Código Libristo: 14277196

Editores Springer-Verlag New York Inc., septiembre 2016

This book, written by a pioneer in surface physics and thin film research and the inventor of Low En... Descripción completa

Código Libristo: 14277196

443 b

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This book, written by a pioneer in surface physics and thin film research and the inventor of Low Energy Electron Microscopy (LEEM), Spin-Polarized Low Energy Electron Microscopy (SPLEEM) and Spectroscopic Photo Emission and Low Energy Electron Microscopy (SPELEEM), covers these and other techniques for the imaging of surfaces with low energy (slow) electrons. These techniques also include Photoemission Electron Microscopy (PEEM), X-ray Photoemission Electron Microscopy (XPEEM), and their combination with microdiffraction and microspectroscopy, all of which use cathode lenses and slow electrons. Of particular interest are the fundamentals and applications of LEEM, PEEM, and XPEEM because of their widespread use. Numerous illustrations illuminate the fundamental aspects of the electron optics, the experimental setup, and particularly the application results with these instruments. Surface Microscopy with Low Energy Electrons will give the reader a unified picture of the imaging, diffraction, and spectroscopy methods that are possible using low energy electron microscopes.