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Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy

Surface Roughness-Practical Example

Idioma InglésInglés
Libro Tapa blanda
Libro Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy Md.Abu Sayeed
Código Libristo: 07085730
Editores LAP Lambert Academic Publishing, febrero 2012
AFM is becoming a key technique in many fields of nano-science and nano-technology. The AFM is capab... Descripción completa
? points 130 b
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AFM is becoming a key technique in many fields of nano-science and nano-technology. The AFM is capable of measuring nanometer scale images of insulating surfaces with thickness as well as measuring three dimensional images of surfaces and studying the topography. It is very suitable for biological system to determine substrate roughness analysis. The chitinous materials that mean microbiological matter are imaged for determining the surface roughness and interaction force of microbial surfaces by AFM.

Actriz & Políglota
EWA KASP para
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Ewa Kasp
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Sobre el libro

Nombre y apellidos Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy
Autor Md.Abu Sayeed, Zakia Ferdous
Idioma Inglés
Encuadernación Libro - Tapa blanda
Fecha de publicación 2012
Número de páginas 72
EAN 9783848400355
Código Libristo 07085730
Editores LAP Lambert Academic Publishing
Peso 118
Dimensiones 152 x 229 x 4

Categorías

Matemáticas y ciencias > Física
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