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VLSI Design and Test

22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers

Idioma InglésInglés
Libro Tapa blanda
Libro VLSI Design and Test S. Rajaram
Código Libristo: 20943800
Editores Springer Verlag, Singapore, enero 2019
This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design an... Descripción completa
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This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2018, held in Madurai, India, in June 2018. The 39 full papers and 11 short papers presented together with 8 poster papers were carefully reviewed and selected from 231 submissions. The papers are organized in topical sections named: digital design; analog and mixed signal design; hardware security; micro bio-fluidics; VLSI testing; analog circuits and devices; network-on-chip; memory; quantum computing and NoC; sensors and interfaces.

Actriz & Políglota
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Ewa Kasp
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Sobre el libro

Nombre y apellidos VLSI Design and Test
Autor S. Rajaram, N. B. Balamurugan, D. Gracia Nirmala Rani, Virendra Singh
Idioma Inglés
Encuadernación Libro - Tapa blanda
Fecha de publicación 2019
Número de páginas 722
EAN 9789811359491
Código Libristo 20943800
Editores Springer Verlag, Singapore
Peso 1116
Dimensiones 155 x 235 x 40

Categorías

Computación e informática > Hardware (o soporte físico del ordenador)
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