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VLSI Test Principles and Architectures

Name: VLSI Test Principles and Architectures
Brand: Elsevier Science & Technology
SKU: 02703621
Price: 80.89 EUR
Availability: InStock
Author: Laung-Terng Wang
ISBN: 9780123705976

Laung-Terng Wang

Idioma

Inglés

Libro Tapa dura

Código Libristo: 02703621

Editores Elsevier Science & Technology, agosto 2006

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a tes... Descripción completa

Código Libristo: 02703621

198 b

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This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume. Most up-to-date coverage of design for testability. Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books. Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures. Lecture slides and exercise solutions for all chapters are now available. Instructors are also eligible for downloading PPT slide files and MSWORD solutions files from the manual website.