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X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures

Name: X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 01651105
Price: 181.49 EUR
Availability: InStock
Author: Martin Schmidbauer
ISBN: 9783642057694

Martin Schmidbauer

Idioma

Inglés

Libro Tapa blanda

Código Libristo: 01651105

Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, diciembre 2010

This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scatter... Descripción completa

Código Libristo: 01651105

444 b

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This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scattering for the structural characterization of mesoscopic material systems. The mesoscopic regime comprises length scales ranging from a few up to some hundreds of nanometers. It is of particular relevance at semiconductor layer systems where, for example, interface roughness or low-dimensional objects such as quantum dots and quantum wires have attracted much interest. An extensive overview of the present state-of-the-art theory of X-ray diffuse scattering at mesoscopic structures is given followed by a valuable description of various experimental techniques. Selected up-to-date examples are discussed. The aim of the present book is to combine aspects of self-organized growth of mesoscopic structures with corresponding X-ray diffuse scattering experiments.