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X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing

Idioma InglésInglés
Libro Tapa dura
Libro X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing Brian K. Tanner
Código Libristo: 06734771
Editores Taylor & Francis Inc, enero 2006
Emphasizes on practical metrology, with real world examples from the semiconductor and magnetics ind... Descripción completa
? points 757 b Próximamente Próximamente
309.39 €
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Emphasizes on practical metrology, with real world examples from the semiconductor and magnetics industries. This book discusses the techniques, theory, and applications of X-ray metrology in semiconductors and other advanced thin films. It covers the essential metrological questions of precision and repeatability, absolute accuracy and spot size.

Actriz & Políglota
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Ewa Kasp
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Sobre el libro

Nombre y apellidos X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing
Autor Brian K. Tanner
Idioma Inglés
Encuadernación Libro - Tapa dura
Fecha de publicación 2006
Número de páginas 296
EAN 9780849339288
ISBN 9780849339288
Código Libristo 06734771
Editores Taylor & Francis Inc
Peso 586
Dimensiones 162 x 245 x 21

Categorías

Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Tecnología: cuestiones generales > Ingeniería de instrumentos e instrumentación
Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Ingeniería mecánica y de materiales > Ciencia de materiales
Tecnología, ingeniería, agricultura, procedimientos industriales > Ingeniería electrónica y de las comunicaciones > Ingeniería electrónica
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